使用波形曲线示踪剂
波形中的曲线示踪器仪器应用程序允许您使用晶体管测试器适配器,并使用平台的继电器来执行特定的测量。它还可以与具有两个波形发生器通道的设备和两个差示示波器输入(模拟发现1或2)或四个单端输入(电子浏览器,模拟发现Pro)一起使用。
硬件
这追踪者仪器支持ADP3450,模拟发现2,模拟发现(遗留)和电子资源管理器。要使用该仪器,您将必须设置参考电路。但是,如果您使用的是模拟发现(遗留)或模拟发现2,则可以使用晶体管测试仪适配器来创建此电路。
二极管选择二极管在设备类型中并将信号挂钩,如右侧所示。 |
NPN晶体管选择NPN.在设备类型中并将信号挂钩,如右侧所示。为了获得良好的结果,您需要指定在电路中使用的RC和RB的值。 |
PNP晶体管选择PNP.在设备类型中并将信号挂钩,如右侧所示。为了获得良好的结果,您需要指定在电路中使用的RC和RB的值。 |
N沟道FET选择n-fet.在设备类型中并将信号挂钩,如右侧所示。为了获得良好的结果,您需要指定在电路中使用的RC和RB的值。 |
P沟道FET选择P-FET.在设备类型中并将信号挂钩,如右侧所示。为了获得良好的结果,您需要指定在电路中使用的RC和RB的值。 |
软件
看法
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XY:添加新的XY视图
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XYZ 3D点:添加新的XYZ 3D点视图
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XYZ 3D表面:添加新的XYZ 3D表面视图
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时间:打开/关闭时间视图
控制
有许多选择进行测量晶体管测试仪适配器。
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单身的- 采用单一分析运行
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跑/停下来- 开始持续的分析运行
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适配器- 使用带有模拟发现2的晶体管测试仪适配器时,选择适配器。如果您使用的另一个设备,请选择无适配器。
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类型- 选择您正在测试的设备类型,选择是二极管,NPN晶体管,PNP晶体管,N通道FET或P通道FET。
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措施- 允许您从14种不同的测量类型中进行选择。请注意,如果选择IC / VCE或IB / VBE,您只能执行单次运行而不是连续测量。
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选项- 您可以从以下选项中进行选择
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速度- 指定采样率
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扫- 选择自动或多个以在单独的捕获中执行斜率。
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发射器- 指定发射极电压
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探测- 指定示波器阻抗。
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校准- 校准输出和输入偏移错误。
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VRA / VRC / VRD- 指定在二极管阳极,晶体管收集器或漏极上施加在电阻器上的开始和停止电压。
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VRB / VRG.- 指定晶体管基座或门上施加的停止/启动电压
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坡- 指定哪个频道将使用步骤或斜率。这是根据所选测量自动调整的
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步骤/样品- 指定步骤和斜率样本的数量
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RA / RC / RD,RB / RG- 在没有适配器的情况下使用时指定电阻值
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电路图显示在没有适配器的情况下使用时的连接。
追踪/参考
当您进行测量时,它会在其中执行痕迹屏幕的一部分。测量可以保存为一个参考比较。左侧的Toggle按钮启用了工具栏的自动隐藏。右侧的按钮在四个步骤中更改了宽度。复选框显示或隐藏图中的相应轨迹。
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颜色:设置跟踪波形颜色。
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出口:使用相应的跟踪数据打开导出窗口。
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名称:指定跟踪名称。
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进口:允许您从文件导入数据。
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更新:使用当前跟踪更新引用跟踪。
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消除:删除参考迹线。
情节窗格
主绘图是显示当前迹线的XY视图。你正在观看的是你在中有什么选择的措施下拉菜单。在下面的图像中,曲线示踪剂软件显示IC(集电极电流)与VBE的曲线(来自基站到发射器的电压)。此视图可让您根据新捕获或频道选择的数据切换自动缩放,该自动缩放调整轴。可以选择X和Y通道并手动设置轴的开始和停止值。您还可以使用鼠标沿绘图的左侧和底部拖动并滚动。
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自动XY:选中时,基于测量选择调整X和Y通道
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步骤标签:检查每个步骤曲线末尾的标签
XYZ 3D点/表面
XYZ 3D视图允许您绘制3D散点图。请注意,此功能仅适用于Windows或MacOS操作系统的64位版本。源跟踪,X,Y和Z轴的通道可以从图绘图的顶部从菜单中选择。默认情况下,自动比例功能将在新捕获,源或通道更改上调整尺度。每个轴的尺度可以在下拉下降和视图的侧面上手动调整。
这齿轮下拉菜单包含以下选项:
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相机:允许您选择查看和位置预设。在图中握住鼠标右键并移动鼠标将旋转视图。
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坡度:让您选择表面的颜色渐变或均匀颜色
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颜色:打开一个对话框以选择样本的颜色
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主题:允许您选择背景,网格和标签颜色
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点:让您选择采样点表示
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阴影:允许您选择阴影质量或禁用它
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网格:检查以显示网格
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背景:检查以显示阴影投影的背景
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平坦的:检查以显示阴影投影的背景
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平移/倾斜/变焦:让您调整视图透视
其他资源
有关如何使用DigInent测试和测量设备的更多指南,请查看设备的资源中心,从中链接测试和测量这个wiki的页面。
有关波形的更多信息,请访问波形参考手册。
有关技术支持,请访问测试和测量Digilent论坛的一部分。