使用波形曲线跟踪器

波形应用程序内部的曲线跟踪仪器允许您使用晶体管测试仪适配器,并使用平台的继电器执行特定测量。它还可用于具有两个波形发生器通道和两个差分示波器输入(模拟Discovery 1或2)或四个单端输入(Electronics Explorer、模拟Discovery Pro)的设备。

硬件

这个示踪剂仪器支持ADP3450、模拟发现2、模拟发现(传统)和电子资源管理器。要使用仪器,必须设置一个参考电路。但是,如果您使用的是模拟发现(传统)或模拟发现2,则可以利用晶体管测试仪适配器来创建此电路。

二极管

选择二极管输入设备类型并连接右侧电路中所示的信号。

NPN晶体管

选择NPN输入设备类型并连接右侧电路中所示的信号。为了获得好的结果,需要指定在回路中使用的Rc和Rb的值。

PNP晶体管

选择PNP输入设备类型并连接右侧电路中所示的信号。为了获得好的结果,需要指定在回路中使用的Rc和Rb的值。

N沟道场效应晶体管

选择N-FET输入设备类型并连接右侧电路中所示的信号。为了获得好的结果,需要指定在回路中使用的Rc和Rb的值。

P沟道场效应晶体管

选择P-FET输入设备类型并连接右侧电路中所示的信号。为了获得好的结果,需要指定在回路中使用的Rc和Rb的值。


软件

看法

  • XY:添加新的XY视图
  • XYZ三维点:添加新的XYZ三维点视图
  • XYZ三维曲面:添加新的XYZ三维曲面视图
  • 时间:打开/关闭时间视图


控制

有许多选项可用于使用晶体管测试适配器.

  • 仅有一个的-进行一次分析
  • 运行/停止-开始连续分析运行
  • 适配器-将晶体管测试仪适配器与模拟Discovery 2一起使用时,请选择适配器。如果您正在使用其他设备,请选择“无适配器”。
  • 类型-选择您正在测试的设备类型,可选择二极管、NPN晶体管、PNP晶体管、N沟道FET或P沟道FET。
  • 测量-允许您从14种不同的测量类型中进行选择。请注意,如果选择IC/VCe或Ib/Vbe,则只能执行单次运行,不能执行连续测量。
  • 选择权-您可以从以下选项中进行选择
    • 速度-指定采样率
    • 打扫-选择“自动”或“多个”以强制在单独捕获中执行坡度。
    • 发射器-指定发射极电压
    • 探查-指定示波器阻抗。
    • 校准-校准输出和输入偏移误差。
  • Vra/Vrc/Vrd-指定施加在二极管阳极、晶体管集电极或漏极电阻器上的启动和停止电压。
  • Vrb/Vrg-指定晶体管基极或栅极电阻器上施加的停止/启动电压
  • 斜坡-指定将使用台阶或坡度的通道。这将根据所选测量值自动调整
  • 步骤/样本-指定台阶数和坡度采样数
  • Ra/Rc/Rd、Rb/Rg-指定不使用适配器时的电阻器值
  • 电路图显示了不使用适配器时的连接。


跟踪/参考

进行测量时,将在查出屏幕的一部分。测量值可以另存为参考作为比较。左侧的切换按钮启用工具栏的自动隐藏。右边的按钮分四步改变宽度。该复选框显示或隐藏绘图中的相应轨迹。

  • 颜色:设置跟踪波形颜色。
  • 出口:打开带有相应跟踪数据的导出窗口。
  • 名称:指定跟踪名称。
  • 进口:用于从文件导入数据。
  • 使现代化:使用当前跟踪更新参考跟踪。
  • 去除:删除引用跟踪。


绘图窗格

主绘图是显示当前轨迹的XY视图。您正在查看的内容是您在中选择的内容测量下拉菜单。在下图中曲线跟踪器软件显示了Ic(集电极电流)与Vbe(从基极到发射极的电压)的曲线图。此视图允许您切换自动缩放,该自动缩放根据新捕获或通道选择的数据调整轴。可以选择X和Y通道,并手动设置轴的开始和停止值。还可以使用鼠标沿绘图的左侧和底部拖动和滚动。

  • 自动XY:选择后,X和Y通道将根据测量选择进行调整
  • 步骤标签:选中此项可在每个阶跃曲线的末尾显示标签


附加XY图

可以从主视图菜单添加与主XY打印类似的其他XY视图。


XYZ三维点/曲面

XYZ 3D视图允许您绘制3D散点图。请注意,此功能仅在64位版本的Windows或macOS操作系统中可用。源轨迹、X、Y和Z轴的通道可以从绘图顶部的菜单中选择。默认情况下,自动缩放功能处于启用状态,它将根据新的捕获、源或通道更改调整缩放。每个轴的比例可以在下拉菜单中和视图的侧面手动调整。

这个排挡下拉菜单包含以下选项:

  • 照相机:用于选择视图和位置预设。在图形上按住鼠标右键并移动鼠标将旋转视图。
  • 坡度:用于选择曲面的颜色渐变或统一颜色
  • 颜色:打开一个对话框,选择样本的颜色
  • 主题:用于选择背景、网格和标签颜色
  • 要点:用于选择采样点表示
  • 阴影:用于选择或禁用阴影质量
  • 网格:选中以显示网格
  • 出身背景:选中以显示阴影投影的背景
  • 平的:选中以显示阴影投影的背景
  • 平移/倾斜/变焦:用于调整视图透视图


时间

时间图显示时域中的当前跟踪数据。


其他资源

有关如何使用数字化测试和测量设备的更多指南,请查看设备的资源中心,链接自测试和测量此维基的第页。

有关波形的更多信息,请访问波形参考手册.

有关技术支持,请访问测试和测量电子论坛部分。